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概述：
功率半导体功率循环测试数据采集卡，是一款普赛斯自主设计开发的插卡式，支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集卡。
采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可达16bits，z高支持2MS/s采样率。单采集卡支持4通道，且通道间隔离。采集卡可应用于我司3插卡或10插卡主机上，单主机z高支持40通道。
产品具有采样速度快，分辨率高，通道互相隔离等特点，因此，可广泛应用于各类型功率半导体功率循环，可靠性测试，以及其他工业场景等数据采集。详询一八一四零六六三四七六；
产品特点：
插卡式设计，4通道/插卡，z高支持40通道
各通道互相隔离，通道间耐压＞500V
16位A/D分辨率
支持变速率采样，z高可达2MS/s采样率
支持大容量数据存储
采集精度高，多电压量程
软件兼容性广，支持Labview，C/C++等
技术参数：
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项目 |
技术指标 |
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单卡通道数 |
4 |
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通道隔离 |
支持，隔离耐压>500V |
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ADC分辨率 |
16bits |
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z高采样率 |
2MS/s |
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采样频率 |
可配置 |
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单卡存储深度 |
128MB |
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输入信号带宽 |
500KHz |
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输入阻抗 |
1GΩ |
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输入电压量程 |
±0.625V、±1.25V、±2.5V、±5V、±10V、±12V |
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数学运算 |
支持变速率采样 |
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触发方式 |
支持软件触发，外部IO触发 |
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单卡尺寸 |
40 mm * 264 mm * 410 mm（L*H*D） |
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主机箱通信 |
RS-232 / GPIB / LAN |
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主机箱输入电源 |
AC: 100~240V, 50/60HZ，z大功率1000W |
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工作温度 |
0~50℃ |
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储存温度 |
-20~80℃ |
应用领域：
功率半导体功率循环，可靠性测试，以及其他工业场景等数据采集。