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数字源表IV扫描光耦/mos静态电特性参数
传统实验教学存在的问题教学仪器老旧，故障率高，精度低，可重复性差；教学专用型仪表，功能单一，仪表复用率低，实验室占地面积
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2023-12-18 |
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半导体参数CV测试仪+CV测试系统
半导体参数CV测试仪+CV测试系统概述 电容-电压(C-V)测量广泛用于半导体参数测试方面，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化
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2023-12-15 |
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功率半导体器件CV测试仪
概述 电容-电压(C-V)测量广泛用于半导体参数测试方面，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压
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2023-12-12 |
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半导体电学特性测试系统CV+IV测试仪
概述： SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速
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2023-12-05 |
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半导体参数分析仪1200V/100A
概述： SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速
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2023-11-29 |
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igbt测试设备igbt模块测试系统
普赛斯igbt测试设备igbt模块测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量IGBT功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流
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2023-11-17 |
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大电流直流源表精密电流源
HCP系列大电流直流源表精密电流源具备直流和脉冲输出能力，z大脉冲输出电流100A，z大输出电压100V，支持四象限工作，输出及测量
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2023-10-31 |
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二极管直流参数特性分析SMU源表
数字源表是一系列具有电流电压输出和测试功能的新型测试设备,S系列数字源表可广泛用于各类分立半导体器件特性测试中，如电阻、二
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2023-10-27 |
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