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微电子器件材料电性能测试SMU数字源表
在半导体材料和器件的研究中，电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升，微电子工艺逐渐复杂，如何对微电子材料器件进
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2024-01-11 |
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IGBT动态测试数据采集卡
概述： A200型IGBT动态测试数据采集卡，是一款普赛斯自主设计开发的插卡式，支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集
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2023-12-25 |
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1000A脉冲大电流源15us上升沿
HCPL100型1000A脉冲大电流源15us上升沿为脉冲恒流源，具有输出电流大（1000A）、脉冲边沿陡（15us）、支持两路脉冲电压测量（峰
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2023-12-22 |
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太阳能组件IV性能分析大电流源表
HCP系列太阳能组件IV性能分析大电流源表具备直流和脉冲输出能力，z大脉冲输出电流100A，z大输出电压100V，支持四象限工作，输出
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2023-12-20 |
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数字源表IV扫描光耦/mos静态电特性参数
传统实验教学存在的问题教学仪器老旧，故障率高，精度低，可重复性差；教学专用型仪表，功能单一，仪表复用率低，实验室占地面积
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2023-12-18 |
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半导体参数CV测试仪+CV测试系统
半导体参数CV测试仪+CV测试系统概述 电容-电压(C-V)测量广泛用于半导体参数测试方面，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化
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2023-12-15 |
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功率半导体器件CV测试仪
概述 电容-电压(C-V)测量广泛用于半导体参数测试方面，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压
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2023-12-12 |
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半导体电学特性测试系统CV+IV测试仪
概述： SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速
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2023-12-05 |
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