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电容电压特性CV曲线测试仪CV测试机
系统方案 普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz
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2024-08-14 |
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数字源表IV测试IC芯片开路电压短路电流等电性能参数
芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测，区别缺
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2024-08-09 |
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大功率分立器件测试设备
半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试
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2024-08-06 |
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脉冲恒流电源1000A大电流源
脉冲恒流电源1000A大电流源技术指标电流脉宽 50μs~500μs脉冲电流上升沿时间典型时间15us输出脉冲电流5~1000A量程，精度0.1%FS
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2024-08-01 |
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电阻式传感器IV电性能分析数字源表
电阻式传感器IV电性能分析数字源表解决方案实时测试多种材料在同-环境条件下的电阻值的反应灵敏;在低电压下进行下高范围跨度(Q、
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2024-07-30 |
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半导体器件参数测试仪iv曲线扫描仪
半导体器件参数测试仪iv曲线扫描仪优势：IV、CV一键测；一体机，支持远程指令控制；支持三同轴接探针台能够覆盖从材料、晶圆、器
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2024-07-25 |
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功率半导体参数测试仪高电压大电流测试
普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数
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2024-07-23 |
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霍尔传感器测试方案+霍尔延时响应测试
霍尔传感器测试方案+霍尔延时响应测试设备简介电流传感器测试系统集多种测量和分析功能一体，可精准测量各种电流传感器（霍尔电
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2024-07-18 |
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